Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Die Eigenschaften von Innovative Advanced Materials werden häufig durch ihre Oberfläche bestimmt. Sie macht oft nur einen sehr kleinen Teil des gesamten Materials aus, steht jedoch in direktem Kontakt und Wechselwirkung mit der Umgebung. Daher ist die Oberfläche in der Regel der reaktionsfreudigste Teil des Werkstoffes. Da Oberflächen für die Eigenschaften von Werkstoffen so wichtig sind, wurden Nano-Materialien entwickelt, deren Oberfläche wesentlich größer ist als die von normal-skaligen Materialien.
Moderne Kompositmaterialien bestehen aus mehreren (Nano-) Materialien. Die Grenzflächen dazwischen sind ebenfalls entscheidend für die Eigenschaften und auch die Haltbarkeit.
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS aus dem Englischen X-ray photoelectron spectroscopy) ist die beliebteste Methode zur Oberflächen- und Grenzflächenanalyse und kommt insbesondere bei Nano-Materialien zum Einsatz. Trotz dieser herausragenden Bedeutung von XPS für die moderne Materialforschung ist es immer noch eine große Herausforderung, zuverlässige Daten und Messprotokolle zu erhalten. In diesem Webinar erläutern wir diese Herausforderung und zeigen Wege auf, wie man zuverlässige Ergebnisse ermitteln und erhalten kann.
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Zielgruppen
Alle, die in der Materialentwicklung und -forschung arbeiten und ihr Methodenspektrum erweitern wollen, insbesondere Anwender*innen von oberflächenanalytischen Methoden
Hinweise
- Kostenfreie Nutzung nach Anmeldung
- Vortragssprache ist Englisch
- Teil des Kompetenzzentrums Nano@BAM
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Kostenlos
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Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Frau Dr. rer. nat. Jörg Radnik
stellvertretende Leitung Fachbereich 6.1 Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie