Demo-Installation

Bestellungen und Anmeldungen werden nicht bearbeitet. Die Produktivumgebung finden Sie unter www.bam-akademie.de

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

Photoelektronenspektrometer an der BAM. Quelle: BAM

Die Eigenschaften von Innovative Advanced Materials werden häufig durch ihre Oberfläche bestimmt. Sie macht oft nur einen sehr kleinen Teil des gesamten Materials aus, steht jedoch in direktem Kontakt und Wechselwirkung mit der Umgebung. Daher ist die Oberfläche in der Regel der reaktionsfreudigste Teil des Werkstoffes. Da Oberflächen für die Eigenschaften von Werkstoffen so wichtig sind, wurden Nano-Materialien entwickelt, deren Oberfläche wesentlich größer ist als die von normal-skaligen Materialien.

Moderne Kompositmaterialien bestehen aus mehreren (Nano-) Materialien. Die Grenzflächen dazwischen sind ebenfalls entscheidend für die Eigenschaften und auch die Haltbarkeit.

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS aus dem Englischen X-ray photoelectron spectroscopy) ist die beliebteste Methode zur Oberflächen- und Grenzflächenanalyse und kommt insbesondere bei Nano-Materialien zum Einsatz. Trotz dieser herausragenden Bedeutung von XPS für die moderne Materialforschung ist es immer noch eine große Herausforderung, zuverlässige Daten und Messprotokolle zu erhalten. In diesem Webinar erläutern wir diese Herausforderung und zeigen Wege auf, wie man zuverlässige Ergebnisse ermitteln und erhalten kann.

Weitere Informationen

Alle, die in der Materialentwicklung und -forschung arbeiten und ihr Methodenspektrum erweitern wollen, insbesondere Anwender*innen von oberflächenanalytischen Methoden

  • Kostenfreie Nutzung nach Anmeldung
  • Vortragssprache ist Englisch
  • Teil des Kompetenzzentrums Nano@BAM
XPS unten
Detail Photoelektronenspektrometer. Quelle: BAM

Online Angebot

Kurssprachen
Jederzeit verfügbar
auf Abruf
kostenlos

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

Online
Englisch

Kostenlos

Weitere Angebote

Zur Kursauswahl

Zu den Terminen

Veranstalter

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Referent*innen

Frau Dr. rer. nat. Jörg Radnik